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Styrel Techonogies - ssii

Projet : Migration depuis C++ vers LabVIEW d'un logiciel de mesure de vieillissement de cartes électroniques et de composants.

Techniques appliquées :

Outils : LabVIEW Instrumentation : MegaOhmMètre Sefelec, cartes relais dans des châssis Pickering reliés par GPIB à un convertisseur USB pour relier à l'ordinateur de bureau ou portable Formation : Formateur des environnements de développement de National Instruments pour les formations suivantes : LabVIEW, LabWindows/CVI, TestStand, Measurement Studio .NET (premier formateur en France)