Styrel Techonogies – ssii

  • Projet : Migration depuis C++ vers LabVIEW d’un logiciel de mesure de vieillissement de cartes électroniques et de composants.

Techniques appliquées :

    • Outils : LabVIEW
    • Instrumentation : MegaOhmMètre Sefelec, cartes relais dans des châssis Pickering reliés par GPIB à un convertisseur USB pour relier à l’ordinateur de bureau ou portable
  • Formation : Formateur des environnements de développement de National Instruments pour les formations suivantes :
    • LabVIEW,
    • LabWindows/CVI,
    • TestStand,
    • Measurement Studio .NET (premier formateur en France)